CF1250

1.用於測量導磁材料上面非導磁塗層或鍍層厚度
2.一體式測頭，便於攜帶
3.測頭自帶V型定位槽
4.測量方式豐富靈活，具備單點測量模式和連續測量模式
5.可設置公差進行篩選測量
 
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